原子力顯微鏡FM-Nanoview 6800AFM

一、主要技術(shù)指標(biāo)：

1、工作模式：接觸、輕敲、摩擦力可擴(kuò)展相位、磁力或靜電力

2、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

3、大掃描范圍：橫向 50um，縱向 5um (可選配：20*20*2um、100*100*10um）

4、掃描分辨率：橫向 0.2nm，縱向 0.05nm

5、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz

6、掃描角度：任意

7、樣品移動范圍：0～50mm

8、馬達(dá)趨近脈沖寬度：10±2ms

9、光學(xué)放大倍數(shù)：10X

10、光學(xué)分辨率：1um

11、圖像采樣點(diǎn)：256×256，512×512

12、掃描控制：XY 采用 18-bit D/A，Z 采用 16-bit D/A

13、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙 16-bit A/D 多路同步采樣

14、反饋方式：DSP 數(shù)字反饋

15、反饋采樣速率：64.0KHz

16、計(jì)算機(jī)接口：USB2.0

17、運(yùn)行環(huán)境：運(yùn)行于 Windows98/2000/XP/7/8 操作系統(tǒng)

二、主要功能特點(diǎn)：

硬件系統(tǒng)：

1、光機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，外形結(jié)構(gòu)簡單；

2、掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強(qiáng)；

3、精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調(diào)節(jié)簡單，操作方便；

4、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；

5、伺服馬達(dá)手動或自動脈沖控制，驅(qū)動樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域

jing確定位；

6、高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域；

7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；

8、帶光學(xué)定位的 CCD 觀測系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測與定位探針掃描樣品區(qū)域；

9、采用伺服馬達(dá)控制 CCD 自動對焦功能；

10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；

11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用。

12、帶溫度顯示。

13、彈簧懸掛式防震方式，簡單實(shí)用，抗干擾能力強(qiáng)。

原子力顯微鏡FM-Nanoview 6800AFM

軟件系統(tǒng)：

1、可觀測樣品掃描時(shí)的表面形貌像、振幅像和相位像；

2、具備接觸、輕敲,可選配相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式；3、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為 256×256 或 512×512；

4、多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；

5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量

功能；

6、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；

7、可任意選擇樣品起始掃描角度；

8、激光光斑檢測系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；

9、針尖共振峰自動和手動搜索功能；

10、可任意定義掃描圖像的色板功能；

11、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；

12、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正；

13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。

三、產(chǎn)品圖片：